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3*3）时，超声波全透射。因此，实际探伤中耦合剂的声阻抗，对探头施加的压力大小都会影响缺陷回波高度，进而影响缺陷定量。此外，当探头与调灵敏度用的试块和被探工件表面耦合状态不同时，而又没有进行恰当的补偿，也会使定量误差增加，精度下降。
（.）衰减的影响。实际工件是存在介质衰减的，由介质衰减引起的分贝差 % .%。可知当衰减系数 较大或距离 %较大时，由此引起的衰减 也较大。这时如果仍不考虑介质衰减的影响，那么定量精度势必受到影响。因此在探伤晶粒较粗大和大型工件时，应测定材质的衰减系数 ，并在定量计算时考虑介质衰减的影响，以便减少定量误差。
）试件几何形状和尺寸的影响
试件底面形状不同，回波高度不一样，凸曲面使反射波发散，回波降低；凹曲面使反射波束聚焦，回波升高。对于圆柱体而言，外圆径向探测实心圆柱体时，入射点处的回波声压理论上同平底面试件，但实际上由于圆柱面耦合不及平面，因而其回波低于平底面。实际探伤中应综合考虑以上因素对定量的影响，否则会使定量误差增加。
试件底面与探测面的平行度以及底面的光洁程度、干净程度也对缺陷定量有较大的影响。当试件底面与探测面不平行、底面粗糙或沾有水迹、油污时将会使底波下降，这样利用底波调节的灵敏度将会偏高，缺陷定量误差增加。
当探测试件侧壁附近的缺陷时，由于侧壁干涉的结果而使定量不准，误差增加。
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侧壁附近的缺陷，靠近侧壁探测回波低，远离测壁探测反而回波高。为了减少侧壁的影响；宜选用频率高、晶片直径大的指向性好的探头探测或横波探测。必要时还可采用试块比较法来定量，以便提高定量精度。
试件尺寸的大小对定量也有一定的影响。当试件尺寸较小，缺陷位于 "以内时，利用底波调灵敏度并定量，将会使定量误差增加。 ）缺陷的影响
（）缺陷形状的影响。试件中实际缺陷的形状是多种多样的，缺陷的形状对其回波波高有很大影响。平面形缺陷波高与缺陷面积成正比，与波长的平方和距离的平方成反比；球形缺陷波高与缺陷直径成正比，与波长的一次方和距离的平方成反比；长圆柱形缺陷波高与缺陷直径的 %&次方成正比，与波长的一次方和距离的 %&方成反比。
对于各种形状的点状缺陷，当尺很小时，缺陷形状对波高的影响就变得很小。当点状缺陷直径远小于波长时，缺陷波高正比于缺陷平均直径的三次方，即随缺陷大小的变化十分急剧。缺陷变小时，波高急剧下降，很容易下降到探伤仪不能发现的程度。
（&）缺陷方位的影。向。前面谈到的情况都是假定超声波入射方向与缺陷表面是垂直的，但实际缺陷表面相对于超声波入射方向往往不垂直。因此对缺陷尺寸估计偏小的可能性很大。
（）缺陷波的指面性。缺陷波高与缺陷波的指面性有关，缺陷波的指向性与缺陷大小有关，而且差别较大。
垂直入射于圆平面形缺陷时，当缺陷直径为波长的 &倍 ’倍以上时，具有较好的指向性，缺陷回波较高。当缺陷直径低于上述值时，缺陷波指向性变坏，缺陷回波降低。
当缺陷直径大于波长的 倍时，不论是垂直入射还是倾斜入射，都可把缺陷对声波的反射看成是镜面反射。当缺陷直径小于波长的 倍时，缺陷反射不能看成镜面反射，这时缺陷波能量呈球形分布。垂直入射和倾斜入射都有大致相同的反射指向性。表面光滑与否，对反射波指向性已无影响。因此，探伤时倾斜入射也可能发现这种缺陷。
（）缺陷表面粗糙度的影响。缺陷表面光滑与否，用波长衡量。如果表面凹凸不平的高度差小于 %波长，就可认为该表面是平滑的，这样的表面反射声束类似镜子反射光束。否则就是粗糙表面。对于表面粗糙的缺陷，当声波垂直入射时，声波被乱反射，同时各部分反射波由于有相位差而产生干涉，使缺陷回波波高随粗糙度的增大而下降。当声波倾斜入射时，缺陷回波波高随着凹凸程度与波长的比值增大而增高。当凹凸程度接近波长时，即使入射角较大，也能接收到回波。
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（）缺陷性质的影响。缺陷回波波高受缺陷性质的影响。声波在界面的反射率是由界面两边介质的声阻抗决定的。当两边声阻抗差异较大时，近似地可认为是全反射，反射声波强。当差异较小时，就有一部分声波透射，反射声波变弱。所以，试件中缺陷性能不同，大小相同的缺陷波波高不同。通常含气体的缺陷，如钢中的白点、气孔等，其声阻抗与钢声阻抗相差很大，可以近似地认为声波在缺陷表面是全反射。但是，对于非金属夹杂物等缺陷，缺陷与材料之间的声阻抗差异较小，透射的声波已不能忽略，缺陷波高相应降低。另外，金属中非金属夹杂的反射与夹杂层厚度有关，一般地说，层厚小于 "波长时，随层厚的增加反射相应增加。层厚超过 "波长时，缺陷回波波高保持在一定水平上。
（%）缺陷位置的影响。缺陷波高还与缺陷位置有关。缺陷位于近场区时，同样大小的缺陷随位置起伏变化较大，定量误差大。所以，实际探伤中总是尽量避免在近场区探伤定量。
（六）非缺陷回波的判别超声检测中，示波屏上常常除了始波 &、底波 ’和缺陷波 (外，还会出现一些其他的信号波，如迟到波、三角反射波、 %")反射波以及其他原因引起的非缺陷回波，影响对缺陷波的正确判别。因此，分析了解常见非缺陷回波产生的原因和特点是十分必要的。 "）迟到波当纵波直探头置于细长（或扁长）工件或试块上时，扩散纵波波束在侧壁产生波型转换，转换为横波，此横波在另一侧面又转换为纵波，最后经底面反射回到探头，被探头接收，从而在示波屏上出现一个回波。由于转换的横波声程长，波速小，传播时间较直接从底面反射的纵波长，因此转换后的波总是出现在第一次底波 ’"之后，故称为迟到波。又由于变型横波可能在两侧壁产生多次反射，每反射一次就会出现一个迟到波，因此迟到波往往有多个。由于迟到波总是位于 ’"之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于 ’"之前，不会干扰缺陷波的判别。实际探伤中，当直探头置于 **+或 ,-. /*0试块上并对准 "1122厚的底面时，在各次底波之间出现一系列的波就是这种迟到波。
3）三角反射波
纵波直探头径向探测实心圆柱体时，由于探头平面与柱面接触面积小，使波束扩散角增加，这样扩散波束就会在圆柱面上形成三角反射路径，从而在示波屏上出现三角发射波，人们把这种反射称为三角反射。
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飞机检测与维修实用手册 2(71)
